光学モジュールアセンブリ/光学ユニットアセンブリ

光学知見に基づいたアセンブリ技術。光ファイバコンポーネンツを自在に組み合わせて、試作から量産まで一貫対応。 当社は光学分野で培ってきた知識とノウハウを活かし、レーザー、光ファイバコンポーネンツなど実績のあるアクティブ部品、パッシブ部品を組み合わせた、光学モジュール，光学ユニットをアセンブリをいたします。
現在光学系装置を量産中のメーカー様で、光ファイバ加工またはアセンブリに問題を抱えている方やコストダウンを実現したい方、もしくはコストダウンに苦労されている方も、是非一度、当社まで御連絡下さい。これまで培ったノウハウをもとに、最適なソリューションを提供させて頂きます。

※光学モジュール：主にパッシブ部品のみを組合わせてアセンブリしたもの
※光学ユニット：アクティブ部品とパッシブ部品を組合わせてアセンブリしたもの

製品詳細情報

特長

光学系モジュール設計とアセンブリ

光学系のモジュール化・ユニット化は、装置の仕様に合わせて、「部品選定」「光ファイバネットワーク設計」「入出力」が連動した設計が必要になります。当社はお客様が実現したい光学系の構成をお伺いし、光源、光ファイバ部品やディテクタの部品選定はもちろんのこと、装置の入出力に合わせたファイバネットワーク設計とアセンブリを提供をしております。加えて、装置に配置できるスペースに合わせたコンパクトなボックス設計も承っております。
光学系モジュール設計は弊社にお任せいただくことで、お客様は装置側の設計・開発に集中でき、仕様変更になったときも、モジュール・ユニット側は柔軟に変更対応ができます。
また、光ファイバデバイスを評価するための光源及び光学測定機器が充実しているため、試作から量産はもちろんのこと、量産後の予期せぬ不具合にも調査と問題解決へ向けて素早く対応できます。

ご対応例

光学デバイス（部品：当社、他社）の選定と販売
光学系の設計（部品：当社、他社、支給品の組み合わせにて設計）
部品、光学系の評価
アセンブリ（試作、量産）
光学系のメーカー保証

光ファイバネットワーク　光路長制御（光学距離制御）／光路長測定（光学距離測定）

光ファイバデバイス内での光の速さは取り扱う部材によって、速さが変化します。ファイバネットワーク内で複数の光路長を合わせたい場合、単純に直尺により長さを合わせるだけでは、光路長差が合わず性能が安定しないことがあります。当社では、様々なタイプのファイバ干渉計の設計・製造によって得られたノウハウと独自の光学的ファイバ測長技術を用いて、光路長差のばらつきを最小限に抑えた光ファイバネットワークを提供できます。

ボックス化

装置の組み込み場所に合わせたボックス形状で、光ファイバ部材を組み合わせた光ファイバネットワークを提供します。試作時は1台から、お客様の評価形態に合わせてボックスまたはプラダン上でのアセンブリを選択できます。

事例

蛍光識別ユニット　可視光分野

任意波長を入射し、光カプラを用いて特定波長のみ出射する光学系は、蛍光観察等の用途に最適です。光源から入射された光（色々な波長を含んだ光）を分光し、特定波長を試料へ出射するとともに、試料から励起された蛍光を受光する光学系を１BOXにて構成できます。また、分光した特定波長を分割しモニタ検出器へ入射するポートや蛍光検出器へ入射するポートなど、用途に合わせた構成が可能です。

多分岐カプラ（コリメータ付き）

光ファイバカプラは光信号を分岐・合流、分波・合波する部品です。１本の光ファイバに入射した光を1/ｎに光を分岐でき、コリメータを先端に取り付けるなど、他のデバイスの組み合わせるなど、用途に合わせて製作します。

多芯バンドル加工

ファイバをバンドルし、１本のファバに合波する事の出来るコンバイナで、高出力の合波に対応できます。合波損失が少なく、可視全域のハイパワーに対応が可能です。

変位センサ用光学モジュール

光源、センサーヘッド、分光器から構成される計測装置にて、光源から出た光は分岐カプラ、ファイバを経由しセンサーヘッドへ、測定対象物から反射された光は分光器へは分岐カプラを通して分光器へアクセスされます。センサに入射される光の量が小さいと、反射される光も小さくなるため、センサの測定精度が悪くなる場合があります。反射光が戻る場合の結合損失も考慮しながら、ご要望の入出力に合わせたカプラの分岐比等を設計してモジュール化します。